x-raydiffraction原理
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X光繞射(XRD)是一種多功能的非破壞性分析技術，可用於分析物理性質，如粉末、固體與液體樣品的相組成、晶體結構及方向。許多材料都是由微小晶粒所構成。這些晶體的化學 ...,由楊仲準著作—本文將由X光粉末多晶繞射分析技術出發，並藉由所獲得之晶體參數，介紹其延伸應用，以利.讀者對於X光晶體繞射有更深一層之認識。X-raydiffractionisanimportant ...,X光和晶體為什麼可以作結構分析，主要是利用光遇到適當的阻礙誤會產生繞射...
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本篇要與大家簡單談談資訊安全的部分，坦白說也是很資深的一塊，從我踏入IT的那一刻起，也要與弱點掃描對抗，每個月都會有伺服器、資料庫、應用程式的弱點掃描，因為大企業的經營一點都不能馬虎，管理者帳號密碼...